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適用于高速率的譜應用
“無損失”或“零死時間”（ZDT）
用來計算高速率下計數(shù)損失的常用方法是延長采集時間?；炯僭O必須是樣品在延長期內不會發(fā)生變化。但當遇到短半衰期或樣品非靜止（例如，流過管道）時，該假設并不成立。ORTEC已經(jīng)完善了數(shù)字領域的無損計數(shù)技術。在該方法中，譜本身按脈沖逐個進行校正，ZDT方法還提供精確校正的譜和正確計算的統(tǒng)計不確定性。
“增加處理量”模式
高輸入計數(shù)率下的精度可能受譜儀將數(shù)據(jù)存儲到內存的速度限制。這就是所謂的“處理量限制”。脈沖堆積意味著超過某一點，存儲到內存的數(shù)據(jù)速率隨著輸入計數(shù)率的進一步增加而降低，從而降低了結果質量。ORTEC通過開發(fā)一種新型數(shù)字峰值檢測算法，消除了與脈沖峰值幅度確定過程相關的一些死區(qū)時間，從而將處理量提高了30％。
適用于運動中的樣品
列表模式
對于樣品相對于輻射探測器移動的情況，通常需要測量作為時間函數(shù)的活度曲線。此類應用的例子包括空中和陸上測量以及出入口監(jiān)控。通常要求不出現(xiàn)與“采集 - 存儲 - 清除 - 重啟”循環(huán)相關聯(lián)的“死區(qū)”。在列表操作模式中，數(shù)據(jù)按事件逐個直接流式傳輸?shù)接嬎銠C。沒有相關的“死區(qū)”。在DSPEC Pro中，每個事件的時間戳都精確到200納秒。通過使用程序員工具包，可以將數(shù)據(jù)重新制作成譜，以便通過ORTEC的各種分析軟件產(chǎn)品或用戶開發(fā)的代碼進行離線分析。
適用于惡劣環(huán)境和機械冷卻器
低頻噪聲抑制器（LFR）
HPGe輻射探測器在存在機械振動環(huán)境中的性能并不十分理想。顫噪噪聲通過向主信號添加低頻周期性電噪聲而降低了能量分辨率。電接地回路也是低頻電噪聲的來源。越來越多的HPGe探測器為消除對LN2的需求而使用機械冷卻器，以及越來越多的HPGe探測器被帶出實驗室環(huán)境。
DSPEC Pro具有低頻噪聲抑制器（LFR）功能，可降低此類噪聲源的影響。再結合高性能列表模式，DSPEC Pro是移動車輛測量系統(tǒng)的儀器。
用于提高大型或中子損傷探測器的分辨率
彈道虧損和電荷捕獲校正
DSPEC Pro中的梯形數(shù)字濾波器與所有其他ORTEC DSPEC系列產(chǎn)品相同。它可調整濾波器以優(yōu)化大型HPGe輻射探測器的分辨率性能，當存在彈道虧損時，這些探測器通常會出現(xiàn)低能拖尾現(xiàn)象。這些大型探測器越來越多地被用于低水平計數(shù)應用。
調整主要通過使用“優(yōu)化”功能自動進行，還可通過InSIGHT數(shù)字示波器模式進行監(jiān)控。
DSPEC Pro以電荷捕獲校正器的形式提供更多功能，電荷捕獲校正器可用于減輕中子損傷輻射探測器的峰值衰減。中子對晶格的損傷會產(chǎn)生“捕獲”中心，該中心可“保留”由伽馬射線相互作用產(chǎn)生的一些電荷。這將導致低側拖尾類似于彈道虧損，盡管原因有所不同。電荷捕獲校正器進行校準或“訓練”，使得它可按事件逐個加回脈沖高度虧損。
